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說說局部放電測試儀操作注意事項

發布時間: 2023-11-03  點擊次數: 139次

說說局部放電(dian)測試儀操(cao)作注意(yi)事(shi)項

 

1. 在試驗開始加壓以(yi)前(qian),試驗人(ren)員必須詳細(xi)而全(quan)面(mian)地檢查一(yi)遍線路,以(yi)免線路接(jie)(jie)(jie)錯。測試儀器處的(de)接(jie)(jie)(jie)地線是(shi)否與接(jie)(jie)(jie)地體牢(lao)(lao)固(gu)連接(jie)(jie)(jie),若連接(jie)(jie)(jie)不(bu)牢(lao)(lao)或在準備(bei)工(gong)作時掐(qia)頭(tou)去尾線被腳踢(ti)斷,這將可能引起(qi)人(ren)身和設備(bei)事故。

2.對于連(lian)接線應避(bi)免將暴露在外,防(fang)止電(dian)暈放(fang)電(dian),尤其對于電(dian)壓等(deng)級較高的局部(bu)放(fang)電(dian)試驗,必要時要加粗高壓連(lian)接線及加裝(zhuang)防(fang)電(dian)暈罩,減小因(yin)場強過高引(yin)起的電(dian)暈放(fang)電(dian)。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。

3. 一(yi)(yi)般情況下,在試驗過程中(zhong),被試品(pin)在耐壓(ya)(ya)、預(yu)升壓(ya)(ya)時(shi)局部放電量都比正(zheng)常值(zhi)大很(hen)多(duo),此時(shi)儀(yi)器(qi)的儀(yi)表必然(ran)會超(chao)出滿刻度。為(wei)防止儀(yi)器(qi)損壞,應將(jiang)儀(yi)器(qi)的增益粗調(diao)旋鈕逆(ni)時(shi)針旋轉一(yi)(yi)檔(dang)或更多(duo)檔(dang),以不超(chao)出滿刻度為(wei)標準。當電壓(ya)(ya)降至測(ce)(ce)量電壓(ya)(ya)時(shi),再將(jiang)增益粗調(diao)開關順時(shi)針旋轉一(yi)(yi)檔(dang)或更多(duo)檔(dang),以便(bian)記(ji)錄測(ce)(ce)量值(zhi)。

4. 校(xiao)正(zheng)(zheng)電(dian)量(liang)發生(sheng)器(qi)校(xiao)正(zheng)(zheng)完(wan)畢后,一(yi)定要從高(gao)壓端(duan)脫離,并關(guan)閉電(dian)源開關(guan),且儀器(qi)的增益細(xi)調(diao)旋鈕不可再調(diao)。因增益粗(cu)調(diao)開關(guan)每(mei)相鄰兩檔之間的關(guan)系是十(shi)(shi)倍,且檔位(wei)有指示,故升(sheng)壓后根(gen)據放電(dian)量(liang)大(da)小,可選擇合適(shi)量(liang)程(cheng)。逆時針旋轉時,每(mei)降一(yi)檔量(liang)程(cheng)擴大(da)十(shi)(shi)倍;反之,順時針時,量(liang)程(cheng)縮小十(shi)(shi)倍。

5. 局部放電測試(shi)儀試(shi)驗(yan)(yan)完畢后,應對整個測試(shi)系統再進行一次復查校(xiao)正(zheng),驗(yan)(yan)證是否與試(shi)驗(yan)(yan)前所校(xiao)正(zheng)出的刻度系數(shu)相等,以(yi)免測試(shi)儀器或其它(ta)環節在試(shi)驗(yan)(yan)過程中發生(sheng)故障而使測試(shi)結果不對。

 

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